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產(chǎn)品中心

Product Center

三維光學(xué)輪廓儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

非接觸式優(yōu)點(diǎn)就是測量裝置探測部分不與被測表面的直接接觸,保護了測量裝置,同時(shí)避免了與測量裝置直接接觸引入的測量誤差。
Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀集成了六種光學(xué)計量技術(shù)。 ZDot 測量模式同時(shí)采集高分辨率 3D 掃描和真彩色無(wú)限對焦圖像。其他測量技術(shù)包括白光干涉法、Nomarski 干涉對比顯微鏡和剪切干涉法。 Zeta-20 也可用于樣品審查或自動(dòng)缺陷檢測。

產(chǎn)品型號:Zeta-20
更新時(shí)間:2024-06-17
廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
訪(fǎng)問(wèn)量:3044

product

產(chǎn)品分類(lèi)

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品牌其他品牌價(jià)格區間面議
產(chǎn)品種類(lèi)非接觸式輪廓儀/粗糙度儀產(chǎn)地類(lèi)別進(jìn)口
應用領(lǐng)域醫療衛生,電子,航天,汽車(chē),綜合

Zeta-20 三維光學(xué)輪廓儀的典型應用:

•MEMS(微機電系統)

•光伏太陽(yáng)能電池

•微流體設備

•數據存儲磁盤(pán)倒邊

•激光打孔

•半導體晶圓級芯片級封裝

應用.png


多功能光學(xué)測試模組

•*ZDot點(diǎn)陣三維成像技術(shù)與強大的算法相結合,輕易獲得各種樣品表面信息生成高分辨率 3D 數據。

•ZIC 干涉反襯成像技術(shù),實(shí)現納米級粗糙度表面的成像及分析。

•ZSI 白光差分干涉技術(shù),垂直方向分辨率可達埃級。

•ZX5 白光干涉技術(shù),大視場(chǎng)下納米級高度的理想測量技術(shù)。

•ZFT 反射光譜膜厚分析技術(shù),集成寬頻反射光譜分析儀,可測量 薄膜材料的厚度、折射率和反射率。

Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀優(yōu)點(diǎn):

•多功能——能夠在任何表面上進(jìn)行多次測量

•特定應用軟件和算法

•對振動(dòng)和樣品傾斜不敏感

•高光通量設計——實(shí)現其他系統無(wú)法進(jìn)行的測量

•易于使用——用戶(hù)可以快速啟動(dòng)和運行

混合反射率表面測量:在太陽(yáng)能電池表面氮化物涂層上的銀。銀反射率大于90%,氮化物反射率小于1%,兩者反射率差非常大,Zeta-20高動(dòng)態(tài)范圍可輕松測量混合反射率表面。

微信截圖_20220309152905.png

在微機電系統上進(jìn)行亞微米級臺階高度測量:可實(shí)現大面積高分辨率測量。

分析防偽透明特征:可在混合、不平整的表面上進(jìn)行準確的 3D 輪廓分析(圖中是人民幣20元防偽標志)


光刻膠和金屬的臺階測量:ZDot 的多模式*地實(shí)現了金屬臺階和薄膜厚度的同時(shí)測量。



激光切割:測量 LED 設備上激光切割的深度。在非常低的對比度,高粗糙度的表面測量。 測量空腔邊緣的材料堆積,以確定它是否已流出劃線(xiàn)區域并流入 LED 器件的有源 區域。









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