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產(chǎn)品中心

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俄羅斯產(chǎn)高性?xún)r(jià)比掃描探針顯微鏡原子力

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

俄羅斯產(chǎn)高性?xún)r(jià)比掃描探針顯微鏡原子力驅近系統的機械設計可使得經(jīng)過(guò)幾次驅近之后仍然能獲得相同的檢測區域。掃描位移大約為500nm,這個(gè)特點(diǎn)可以讓您在幾周內仍然能夠研究相同的樣品區域。

產(chǎn)品型號:Solver P47
更新時(shí)間:2024-06-17
廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
訪(fǎng)問(wèn)量:2605

product

產(chǎn)品分類(lèi)
tel-phone

021-64283335

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俄羅斯產(chǎn)高性?xún)r(jià)比掃描探針顯微鏡原子力 技術(shù)指標

樣品尺寸

40x40x10mm

掃描器

3x3x1um ( ± 10%); 10x10x2um( ± 10%); 50x50x3 um ( ± 10%)

zui小掃描步長(cháng)

0.0004 nm; 0.0011 nm; 0.006 nm

掃描類(lèi)型

樣品掃描式

SPM頭部

AFM

STM:

30pA - 50nA, 4 p時(shí)的ARMS 噪音 (標準的前置放大器),

10pA - 5nA, 1.5 p時(shí)的ARMS噪音 (低電流前置放大器)

剪切力

光學(xué)觀(guān)察系統

數值孔徑 0.1

放大倍數58x to 578x

水平視野 5,1~ 0,51mm

控制系統

SPM 控制箱

振動(dòng)隔離系統

集成有被動(dòng)隔離系統

如果需要也可用主動(dòng)隔離系統


俄羅斯產(chǎn)高性?xún)r(jià)比掃描探針顯微鏡原子力產(chǎn)品優(yōu)勢


項目

Solver P47 優(yōu)點(diǎn)

操作模式

1.合理的操作模式:

a. 擴展電阻成像:這個(gè)模式在表征半導體的應用中非常有用,因為在該模式下,我們可以利用W2C 或TiO涂層的硅懸臂來(lái)測得樣品上某一點(diǎn)的導電率,然后和該點(diǎn)的表明形貌進(jìn)行比較。

b.  粘附力模式:在掃描過(guò)程中,可以同時(shí)得到力-距離曲線(xiàn)和力的值。

c.  剪切力模式:可以用來(lái)實(shí)現SNOW系統。

d. SKM對半導體表面成分分析十分有用。

e. RM和電壓刻蝕:利用這兩個(gè)模式可以在納米尺度實(shí)現機械和電壓表面修飾。

2.集成測量頭

在一次掃描過(guò)程中,可以同時(shí)得到4種不同的信息。

掃描器

NT-MDT提供一套用于校正的標準光柵(6片),用其進(jìn)行掃描器的校正和針尖質(zhì)量的控制。。

樣品大小

大樣品也可以進(jìn)行測量。

光學(xué)觀(guān)測系統

多樣的光學(xué)觀(guān)測系統配置可以*客戶(hù)的需求。

針尖與樣品的驅近

1. 驅近系統的機械設計可使得經(jīng)過(guò)幾次驅近之后仍然能獲得相同的檢測區域。掃描位移大約為500nm,這個(gè)特點(diǎn)可以讓您在幾周內仍然能夠研究相同的樣品區域。

2. 在完成驅近之后,可以對所要檢測的區域進(jìn)行自動(dòng)掃描,因此實(shí)驗人員只需很短的時(shí)間便可以在SPM上獲得檢測結果。

3. 允許手動(dòng)驅近。

電子學(xué)

每個(gè)軸(X,Y和Z)通過(guò)2個(gè)16位DAC來(lái)實(shí)現22位的掃描精度,再加上極低的系統噪音,所以Solver使用50mm的掃描器也能實(shí)現原子級分辨率。

計算機

我們的顯微鏡可以在任何兼容計算機機上進(jìn)行操作。如果您不想購買(mǎi)額外的計算機,那么您還可以將這臺用于SPM的計算機用于其他用途。

軟件

多樣的圖像處理方法;

圖像處理軟件可以在網(wǎng)站免費下載;

可以處理DI,PSI, Topometrix和其他SPM廠(chǎng)家的數據文件樣本;

可以根據用戶(hù)需要來(lái)定制軟件。

隔震系統

在通常的實(shí)驗室中,不需要增加額外的隔震系統(在通常的實(shí)驗室環(huán)境下就可以得到原子級圖像)。

其他優(yōu)點(diǎn)

鈦合金結構和*的SPM測量系統設計提供了zui低的熱漂移,讓您可以打開(kāi)系統之后馬上就可以開(kāi)始測量了。

在這方面,NT-MDT盡全力滿(mǎn)足客戶(hù)的期望。



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