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產(chǎn)品中心

Product Center

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產(chǎn)品分類(lèi)
  • Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀

    非接觸式優(yōu)點(diǎn)就是測量裝置探測部分不與被測表面的直接接觸,保護了測量裝置,同時(shí)避免了與測量裝置直接接觸引入的測量誤差。 Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀集成了六種光學(xué)計量技術(shù)。 ZDot 測量模式同時(shí)采集高分辨率 3D 掃描和真彩色無(wú)限對焦圖像。其他測量技術(shù)包括白光干涉法、Nomarski 干涉對比顯微鏡和剪切干涉法。 Zeta-20 也可用于樣品審查或自動(dòng)缺陷檢測。

    更新時(shí)間:2024-06-17
    產(chǎn)品型號:Zeta-20
    瀏覽量:3050
  • Profilm 3D經(jīng)濟三維光學(xué)輪廓儀 可測樣

    Profilm 3D是一款兼具垂直掃描干涉 (VSI)和高精確度相移干涉 (PSI) 技術(shù)的經(jīng)濟三維光學(xué)輪廓儀,其可以用于多種用途的高精度表面測量。 我司有此機器可測樣。

    更新時(shí)間:2024-06-17
    產(chǎn)品型號:Profilm 3D
    瀏覽量:2486
  • P170全自動(dòng)晶圓探針式輪廓儀/臺階儀

    P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀,將P-17臺式系統的測量性能和經(jīng)過(guò)生產(chǎn)驗證的HRP®-260的機械傳送臂相結合。 這樣的組合為機械傳送臂系統提供了低成本,適用于半導體,化合物半導體和相關(guān)行業(yè)。 P-170全自動(dòng)晶圓探針式輪廓儀/臺階儀可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進(jìn)行2D和3D測量,其掃描可達200mm而無(wú)需圖像拼接。

    更新時(shí)間:2024-06-17
    產(chǎn)品型號:P170
    瀏覽量:2623
  • P17自動(dòng)晶圓探針式輪廓儀/臺階儀

    自動(dòng)晶圓探針式輪廓儀/臺階儀P17。該系統支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力2D和3D測量,掃描可達200mm無(wú)需圖像拼接。結合UltraLite®傳感器、恒力控制和超平掃描平臺,有出色測量穩定性。

    更新時(shí)間:2024-06-17
    產(chǎn)品型號:P17
    瀏覽量:1305
  • P7晶圓探針式輪廓儀/臺階儀

    P-7晶圓探針式輪廓儀/臺階儀保持了P-17技術(shù)的測量性能,并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了好的性?xún)r(jià)比。 P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進(jìn)行2D和3D測量,其掃描可達150mm而無(wú)需圖像拼接。從可靠性表現來(lái)看, P-7具有較好的測量重復性。

    更新時(shí)間:2024-06-17
    產(chǎn)品型號:P7
    瀏覽量:2785
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