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  • iNano高精度臺式納米壓痕儀

    iNano高精度臺式納米壓痕儀是一種緊湊,用戶(hù)友好的納米機械測量系統,設計用于硬涂層,薄膜和少量材料。該系統旨在進(jìn)行準確,可重復的納米級機械測試,包括壓痕,硬度,劃痕和通用納米級測試。iNano具有很大的力和位移動(dòng)態(tài)范圍,可以施加高達50mN的力來(lái)測試薄膜和軟材料。模塊化選項可滿(mǎn)足多種應用,包括材料特性圖和高溫測試。

    更新時(shí)間:2024-06-17
    產(chǎn)品型號:iNano
    瀏覽量:3042
  • G200原位納米力學(xué)測試系統

    Nano Indenter® G200原位納米力學(xué)測試系統是一種準確,靈活,使用方便的納米級機械測試儀器。 G200 測量楊氏模量和硬度,包括從納米到毫米的六個(gè)數量級的形變測量。 可測量聚合物,凝膠和生物組織的復數模量以及薄金屬膜的蠕變響應(應變率靈敏度)。 模塊化適用各種應用:頻率特定測試,定量刮擦和磨損測試,集成的基于探頭的成像,高溫納米壓痕測試,擴展負載容量高達10N 和自定義測試。

    更新時(shí)間:2024-06-17
    產(chǎn)品型號:G200
    瀏覽量:1521
  • 微納米壓痕儀

    微納米壓痕儀(高溫)通過(guò)在真空環(huán)境中單加熱jian端和樣品來(lái)測量高溫下的硬度、模量和硬度。INSEM®HT與掃描電子顯微鏡(SEM)和聚焦離子束(FIB)或立真空室兼容。附帶的InView軟件可以協(xié)助開(kāi)發(fā)新的實(shí)驗??茖W(xué)出版物表明,InSEM HT結果與傳統大型高溫試驗數據吻合。廣泛的溫度范圍使InSEM HT成為開(kāi)發(fā)研究材料的一個(gè)非常有價(jià)值的工具。

    更新時(shí)間:2024-06-17
    產(chǎn)品型號:
    瀏覽量:1111
  • LF-2000原位自動(dòng)納米操作系統

    TNI LF-2000原位自動(dòng)納米操作系統是目前市面上基于SEM電鏡下使用的高自動(dòng)化程度的納米操作系統,也是一種能夠在SEM電鏡下提供可重復定位、低漂移、閉環(huán)運動(dòng)控制定位的納米操作系統。LF-2000可以在原位條件下進(jìn)行力學(xué)測量、電學(xué)測試、納米物體拾取和裝配、制作微納米器件、納米電子器件電學(xué)測量等。

    更新時(shí)間:2024-06-17
    產(chǎn)品型號:LF-2000
    瀏覽量:903
  • FT-NMT04納米力學(xué)性能測試系統

    FT-NMT04納米力學(xué)性能測試系統是一種多功能的原位掃描電鏡/光纖納米壓頭,能夠準確量化材料在微觀(guān)和納米尺度上的力學(xué)行為。

    更新時(shí)間:2024-06-17
    產(chǎn)品型號:FT-NMT04
    瀏覽量:793
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